|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 135 van 171 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability modeling and analysis of flicker noise for pore structure in amorphous chalcogenide-based phase-change memory devices |
| Auteur: |
Lim, Jun Yeong Yun, Ilgu |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 9-10 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 135 van 171 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |