|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of geometry dependence on MOSFET linearity in the impact ionization region using Volterra series |
| Auteur: |
Lee, Chie-In Lin, Wei-Cheng Lin, Yan-Ting |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 8 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |