|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Qualification of bumping processes: Experimental and numerical investigations on mechanical stress and failure modes induced by shear test |
| Auteur: |
Gallois-Garreignot, Sébastien Benzima, Naceur Benmussa, Etienne Moutin, Caroline Bouchard, Pierre-Olivier Fiori, Vincent Tavernier, Clément |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 6 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |