Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 14 van 21 gevonden artikelen
 
 
  Microstructure simulation of grain growth in Cu through silicon vias using phase-field modeling
 
 
Titel: Microstructure simulation of grain growth in Cu through silicon vias using phase-field modeling
Auteur: Nabiollahi, Nabi
Moelans, Nele
Gonzalez, Mario
De Messemaeker, Joke
Wilson, Christopher J.
Croes, Kristof
Beyne, Eric
De Wolf, Ingrid
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 55 (2015) nr. 5 pagina's 6 p.
Jaar: 2015
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 14 van 21 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland