Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 21 gevonden artikelen
 
 
  Electrical characteristics and reliability performance of IGBT power device packaging by chip embedding technology
 
 
Titel: Electrical characteristics and reliability performance of IGBT power device packaging by chip embedding technology
Auteur: Chang, Tao-Chih
Lee, Chang-Chun
Hsieh, Chia-Ping
Hung, Sheng-Che
Cheng, Ren-Shin
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 55 (2015) nr. 12PA pagina's 7 p.
Jaar: 2015
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 21 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland