|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Compact failure modeling for devices subject to electrostatic discharge stresses – A review pertinent to CMOS reliability simulation |
| Auteur: |
Miao, Meng Zhou, Yuanzhong Salcedo, Javier A. Hajjar, Jean-Jacques Liou, Juin J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 1 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |