|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability impacts of high-speed 3-bit/cell Schottky barrier nanowire charge-trapping memories |
| Auteur: |
Chang, Wei Shih, Chun-Hsing Luo, Yan-Xiang Wu, Wen-Fa Lien, Chenhsin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 1 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |