|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 141 gevonden artikelen
| Titel: |
Advanced methods for mechanical and structural characterization of nanoscale materials for 3D IC integration |
| Auteur: |
Sander, C. Standke, Y. Niese, S. Rosenkranz, R. Clausner, A. Gall, M. Zschech, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 9-10 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 141 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |