|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 135 van 141 gevonden artikelen
| Titel: |
Total ionizing dose response of fluorine implanted Silicon-On-Insulator buried oxide |
| Auteur: |
Potter, Kenneth Morgan, Katrina Shaw, Chris Ashburn, Peter Redman-White, William De Groot, C.H. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 9-10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 135 van 141 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |