Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
 
 
  Analysis of flicker and thermal noise in p-channel Underlap DG FinFET
 
 
Titel: Analysis of flicker and thermal noise in p-channel Underlap DG FinFET
Auteur: Swain, Sanjit Kumar
Adak, Sarosij
Pati, Sudhansu Kumar
Pardeshi, Hemant
Sarkar, Chandan Kumar
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 54 (2014) nr. 8 pagina's 6 p.
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland