|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
On the current conduction mechanisms of CeO2/La2O3 stacked gate dielectric |
| Auteur: |
Feng, Xuan Wong, H. Yang, B.L. Dong, Shurong Iwai, H. Kakushima, K. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 6-7 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 54 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |