|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
New degradation mechanism observed for AlGaN/GaN HEMTs with sub 100nm scale unpassivated regions around the gate periphery |
| Auteur: |
Ivo, Ponky Cho, Eunjung Melanie Kotara, Przemyslaw Schellhase, Lars Lossy, Richard Zeimer, Ute Mogilatenko, Anna Würfl, Joachim Tränkle, Günther Glowacki, Arkadiusz Boit, Christian |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 6-7 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 54 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |