|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
ESD degradation and robustness of RGB LEDs and modules: An investigation based on combined electrical and optical measurements |
| Auteur: |
Meneghini, Matteo Vaccari, Simone Lago, Matteo Dal Marconi, Stefano Barbato, Marco Trivellin, Nicola Griffoni, Alessio Alfier, Alberto Verzellesi, Giovanni Meneghesso, Gaudenzio Zanoni, Enrico |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 6-7 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 54 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |