|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Liquid crystal electrography: Electric field mapping and detection of peak electric field strength in AlGaN/GaN high electron mobility transistors |
| Auteur: |
Möreke, Janina Hodges, Chris Mears, Laura L.E. Uren, Michael J. Richardson, Robert M. Kuball, Martin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |