|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of rapid thermal annealing temperature on structure and electrical properties of high permittivity HfTiO thin film used in MOSFET |
| Auteur: |
Ye, Cong Zhan, Chao Zhang, Jieqiong Wang, Hao Deng, Tengfei Tang, Shiruo |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 2 pagina's 388-392 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |