|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Time-dependent-dielectric-breakdown characteristics of Hf-doped Ta2O5/SiO2 stack |
| Auteur: |
Atanassova, E. Novkovski, N. Spassov, D. Paskaleva, A. Skeparovski, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 2 pagina's 381-387 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 23 gevonden artikelen
| << vorige |