|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability of the doping concentration in an ultra-thin body and buried oxide silicon on insulator (SOI) and comparison with a partially depleted SOI |
| Auteur: |
Chang, Wen-Teng Lai, Chun-Ming Yeh, Wen-Kuan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 2 pagina's 485-489 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |