|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Charge-trapping characteristics of BaTiO3 with and without nitridation for nonvolatile memory applications |
| Auteur: |
Huang, X.D. Shi, R.P. Leung, C.H. Lai, P.T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |