|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 38 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Total-ionizing-dose effects and reliability of carbon nanotube FET devices |
| Auteur: |
Zhang, Cher Xuan Zhang, En Xia Fleetwood, Daniel M. Alles, Michael L. Schrimpf, Ronald D. Rutherglen, Chris Galatsis, Kosmas |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 38 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |