|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Accelerated assessment of fine-grain AVF in NoC using a Multi-Cell Upsets considered fault injection |
| Auteur: |
Jiao, Jiajia Fu, Yuzhuo Wen, Shijie |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 11 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 43 gevonden artikelen
| volgende >> |