|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
The impact of interface/border defect on performance and reliability of high-k/metal-gate CMOSFET |
| Auteur: |
Yeh, Wen-Kuan Chen, Po-Ying Gan, Kwang-Jow Wang, Jer-Chyi Lai, Chao Sung |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |