|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Trades-off between lithography line edge roughness and error-correcting codes requirements for NAND Flash memories |
| Auteur: |
Poliakov, Pavel Blomme, Pieter Pret, Alessandro Vaglio Corbalan, Miguel Miranda Gronheid, Roel Verkest, Diederik Houdt, Jan Van Dehaene, Wim |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 52 (2012) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| << vorige |