Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 26 gevonden artikelen
 
 
  Effect of additive N2 and Ar gases on surface smoothening and fracture strength of Si wafers during high-speed chemical dry thinning
 
 
Titel: Effect of additive N2 and Ar gases on surface smoothening and fracture strength of Si wafers during high-speed chemical dry thinning
Auteur: Heo, W.
Lee, N.-E.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 52 (2012) nr. 2 pagina's 6 p.
Jaar: 2012
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 26 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland