|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Circuit design and experimental test of a high power IGBT non-destructive tester |
| Auteur: |
Ahmed, Ashraf Castellazzi, A. Coulbeck, L. Johnson, M.C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 52 (2012) nr. 11 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |