|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
An adaptive Cu trace fatigue model based on average cross-section strain |
| Auteur: |
Farley, D. Zhou, Y. Dasgupta, A. DeVries, J.W.C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 52 (2012) nr. 11 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |