|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
The effect of gate overlap lightly doped drains on low temperature poly-Si thin film transistors |
| Auteur: |
Cho, Jaehyun Jung, Sungwook Jang, Kyungsoo Park, Hyungsik Heo, Jongkyu Lee, Wonbaek Gong, DaeYoung Park, Seungman Choi, Hyungwook Jung, Hanwook Choi, Byoungdeog Yi, Junsin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 52 (2012) nr. 1 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |