Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
 
 
  Anomalous drain voltage dependence in bias temperature instability measurements on high-κ field effect transistors
 
 
Titel: Anomalous drain voltage dependence in bias temperature instability measurements on high-κ field effect transistors
Auteur: Mee, J.K.
Devine, R.A.B.
Trombetta, L.
Kaplar, R.J.
Gouker, P.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 51 (2011) nr. 6 pagina's 5 p.
Jaar: 2011
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland