|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Current transport mechanisms and trap state investigations in (Ni/Au)–AlN/GaN Schottky barrier diodes |
| Auteur: |
Arslan, Engin Bütün, Serkan Şafak, Yasemin Çakmak, Hüseyin Yu, Hongbo Özbay, Ekmel |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |