|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Using S-parameter measurements to determine the threshold voltage, gain factor, and mobility degradation factor for microwave bulk-MOSFETs |
| Auteur: |
Álvarez-Botero, Germán Torres-Torres, Reydezel Murphy-Arteaga, Roberto |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 48 gevonden artikelen
| << vorige |