|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistor degradation under on- and off-state stress |
| Auteur: |
Douglas, E.A. Chang, C.Y. Cheney, D.J. Gila, B.P. Lo, C.F. Lu, Liu Holzworth, R. Whiting, P. Jones, K. Via, G.D. Kim, Jinhyung Jang, Soohwan Ren, Fan Pearton, S.J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |