|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 56 van 59 gevonden artikelen
| Titel: |
Tunneling component suppression in charge pumping measurement and reliability study for high-k gated MOSFETs |
| Auteur: |
Lu, Chun-Chang Chang-Liao, Kuei-Shu Lu, Chun-Yuan Chang, Shih-Cheng Wang, Tien-Ko Hou, Fu-Chung Hsu, Yao-Tung |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 56 van 59 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |