|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 36 van 59 gevonden artikelen
| Titel: |
On the profile of frequency and voltage dependent interface states and series resistance in (Ni/Au)/Al0.22Ga0.78N/AlN/GaN heterostructures by using current–voltage (I–V) and admittance spectroscopy methods |
| Auteur: |
Demirezen, S. Altındal, Ş. Özçelik, S. Özbay, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 12 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 36 van 59 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |