|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on copper diffusion depth in copper wire bonding |
| Auteur: |
Chen, Catherine H. Zhang, Shawn X. Ricky Lee, S.W. Mohamed, Lebbai |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |