|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 75 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
Interface traps density-of-states as a vital component for hot-carrier degradation modeling |
| Auteur: |
Tyaginov, S.E. Starkov, I.A. Triebl, O. Cervenka, J. Jungemann, C. Carniello, S. Park, J.M. Enichlmair, H. Karner, M. Kernstock, Ch. Seebacher, E. Minixhofer, R. Ceric, H. Grasser, T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 75 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |