|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 60 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
Facing the defect characterization and localization challenges of bridge defects on a submicronic technology (45nm and below) |
| Auteur: |
Celi, Guillaume Dudit, Sylvain Perdu, Philippe Reverdy, Antoine Parrassin, Thierry Bechet, Emmanuel Lewis, Dean Vallet, Michel |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 60 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |