|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 54 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental and numerical results correlation during extreme use of power MOSFET designed for avalanche functional mode |
| Auteur: |
Dupont, L. Blanchard, J.L. Lallemand, R. Coquery, G. Morelle, J.M. Blondel, G. Rouleau, B. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 54 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |