|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of the ESD performance of local protections based on SCR or bi-SCR with dynamic or static trigger circuit in 32nm |
| Auteur: |
Bourgeat, J. Entringer, C. Galy, P. Bafleur, M. Marin-Cudraz, D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |