|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron beam induced carbon deposition using hydrocarbon contamination for XTEM analysis |
| Auteur: |
Luo, J.S. Sung, C.S. Hsu, W.S. Huang, L.Y. Russell, J.D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |