|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 133 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
UHV CAFM characterization of high-k dielectrics: Effect of the technique resolution on the pre- and post-breakdown electrical measurements |
| Auteur: |
Lanza, M. Porti, M. NafrÃa, M. Aymerich, X. Whittaker, E. Hamilton, B. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 133 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |