|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of large area Trench-IGBT current distribution under UIS test with the aid of lock-in thermography |
| Auteur: |
Riccio, M. Rossi, L. Irace, A. Napoli, E. Breglio, G. Spirito, P. Tagami, R. Mizuno, Y. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |