Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 114 van 140 gevonden artikelen
 
 
  Soft-errors induced by terrestrial neutrons and natural alpha-particle emitters in advanced memory circuits at ground level
 
 
Titel: Soft-errors induced by terrestrial neutrons and natural alpha-particle emitters in advanced memory circuits at ground level
Auteur: Autran, J.L.
Munteanu, D.
Roche, P.
Gasiot, G.
Martinie, S.
Uznanski, S.
Sauze, S.
Semikh, S.
Yakushev, E.
Rozov, S.
Loaiza, P.
Warot, G.
Zampaolo, M.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 50 (2010) nr. 9-11 pagina's 10 p.
Jaar: 2010
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 114 van 140 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland