|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on NMOS-based power-rail ESD clamp circuits with gate-driven mechanism in a 0.13-μm CMOS technology |
| Auteur: |
Chen, Shih-Hung Ker, Ming-Dou |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 6 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |