|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Device and circuit level suppression techniques for random-dopant-induced static noise margin fluctuation in 16-nm-gate SRAM cell |
| Auteur: |
Lee, Kuo-Fu Li, Yiming Li, Tien-Yen Su, Zhong-Cheng Hwang, Chin-Hong |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |