|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of the nanoindentation behaviors of SiGe epitaxial layer on Si substrate |
| Auteur: |
He, Bo-Ching Cheng, Chun-Hu Wen, Hua-Chiang Lai, Yi-Shao Yang, Ping-Feng Lin, Meng-Hung Wu, Wen-Fa Chou, Chang-Pin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 1 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |