|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability and degradation mechanism of AlGaN/GaN HEMTs for next generation mobile communication systems |
| Auteur: |
Dammann, M. Pletschen, W. Waltereit, P. Bronner, W. Quay, R. Müller, S. Mikulla, M. Ambacher, O. van der Wel, P.J. Murad, S. Rödle, T. Behtash, R. Bourgeois, F. Riepe, K. Fagerlind, M. Sveinbjörnsson, E.Ö. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 49 (2009) nr. 5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |