Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
 
 
  New concepts of worst-case delay and yield estimation in asynchronous VLSI circuits
 
 
Titel: New concepts of worst-case delay and yield estimation in asynchronous VLSI circuits
Auteur: Sokolović, Miljana
Litovski, Vančo
Zwolinski, Mark
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 49 (2009) nr. 2 pagina's 13 p.
Jaar: 2009
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland