|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Correlation studies for component level ball impact shear test and board level drop test |
| Auteur: |
Wong, E.H. Rajoo, R. Seah, S.K.W. Selvanayagam, C.S. van Driel, W.D. Caers, J.F.J.M. Zhao, X.J. Owens, N. Tan, L.C. Leoni, M. Eu, P.L. Lai, Y.-S. Yeh, C.-L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 7 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |