Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 12 van 25 gevonden artikelen
 
 
  Impact of bias condition on 1/f noise of dual-gate depletion type MOSFET in linear region and consequences for noise diagnostic application and modelling
 
 
Titel: Impact of bias condition on 1/f noise of dual-gate depletion type MOSFET in linear region and consequences for noise diagnostic application and modelling
Auteur: Videnovic-Misic, M.
Jevtic, M.M.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 48 (2008) nr. 7 pagina's 7 p.
Jaar: 2008
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 12 van 25 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland