|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Failure analysis of pad-height effects in the fine-pitch interconnection of the anisotropic conductive films |
| Auteur: |
Lin, Chao-Ming Lin, Tzu-Chao Fang, Te-Hua Chao, Kuo-Sheng |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 7 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |