|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
The need for multi-scale approaches in Cu/low-k reliability issues |
| Auteur: |
Yuan, Cadmus A. van der Sluis, Olaf van Driel, Willem D. Zhang, G.Q. (Kouchi) |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 6 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |